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1 automatic prober
автоматичне зондове вимірювальне устаткуванняEnglish-Ukrainian dictionary of microelectronics > automatic prober
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2 prober
зондове вимірювальне устаткування - chip prober
- electron-beam prober
- manual prober
- microprocessor-based prober
- wafer prober
См. также в других словарях:
Wafer prober — A wafer prober is a machine used to test integrated circuits. OverviewIntegrated circuits are fabricated in large numbers by a complex series of printing steps on silicon wafers. This process permits integrated circuits to be produced cheaply but … Wikipedia
Failure analysis — is the process of collecting and analyzing data to determine the cause of a failure. It is an important discipline in many branches of manufacturing industry, such as the electronics industry, where it is a vital tool used in the development of… … Wikipedia
Non-contact wafer testing — Wafer testing is a normal step in semiconductor device fabrication, used to detect defects in integrated circuits (IC) before they are assembled during the IC packaging step. Traditional (contact) wafer testing Probing ICs while they are still on … Wikipedia
Focal plane array testing — (under development sep 15)Focal Plane Array testing (FPA testing) is the test engineering process of validation and verification (V V) of operation of focal plane array imaging devices, device under test (DUT), at various levels of the… … Wikipedia
Wafer Sort Test — Der Wafer Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf bei der Produktion von integrierten Schaltungen. Er wird an dem noch nicht zerteilten Wafer durchgeführt, um fehlerhafte Schaltungen frühzeitig zu erkennen. Dafür wird der Wafer in ein… … Deutsch Wikipedia
Wafertest — Der Wafer Test ist eine Funktionsprüfung im Fertigungsablauf bei der Produktion von integrierten Schaltungen. Er wird an dem noch nicht zerteilten Wafer durchgeführt, um fehlerhafte Schaltungen frühzeitig zu erkennen. Dafür wird der Wafer in ein… … Deutsch Wikipedia
